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半导体高低温冲击测试箱

简要描述:半导体高低温冲击测试箱适合用于电工电子电器机械等零组件、自动化零部件、国防工业行业、航空航天研究所、兵工业、通讯产品或组件、汽车成品或配件、金属材料、化学材料、五金塑料、LED、LCD光电、光伏、照明、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对冷、热温的快速反复抵抗力及工业产品处于热胀冷缩的环境时所出现的化学变化或者物理伤害。

  • 产品型号:2AP-CJ-225B3
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-06-25
  • 访 问 量:49

详细介绍

品牌 爱佩科技 分类 冲击试验箱
内箱材质 不锈钢 产地 国产

半导体高低温冲击测试箱适合用于电工电子电器机械等零组件、自动化零部件、国防工业行业、航空航天研究所、兵工业、通讯产品或组件、汽车成品或配件、金属材料、化学材料、五金塑料、LED、LCD光电、光伏、照明、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对冷、热温的快速反复抵抗力及工业产品处于热胀冷缩的环境时所出现的化学变化或者物理伤害,可确认工业产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为工业行业众多产品改进品质的依据或参考。以便考核产品的适应性或对测试产品的行为作出评价。是新产品研发、样机实验、产品合格鉴定试验全过程的重要试验手段。

半导体高低温冲击测试箱技术参数:

可选择的容积有如下:

50L内箱尺寸为360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

80L内箱尺寸为500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

150L内箱尺寸为600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

250L内箱尺寸为700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

512L内箱尺寸为800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

1000L内箱尺寸为1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

可设定的实际冲击温度范围可选:A:-40℃~+150℃,B:-55℃~150℃,C:-65℃~+150℃

测试箱温度冲击范围:-65℃~+150℃(可编程任意设定)

蓄热箱温度范围:+50℃~+200℃(可编程任意设定)

蓄冷箱温度范围:0℃~-75℃(可编程任意设定)

控制器控制精度:±0.2℃

温度冲击速率:3~5分钟内完成

内箱材质:SUS304不锈钢

外箱材质:不锈钢板(SUS #304)或者钢板烤漆颜色可以自选;

保温材质:聚氨酯泡沫

加热器:鳍片式散热管镍铬合金U型高效加热器,自动演算PID+SSR控制(演算周期:1~4S可设),使其热损耗量与加热量相当,故比传统ON/OFF控制省电约30%;

控制器:OYO8226(日本触摸屏控制器、中文菜单、程序运行方式)

制冷机:全封闭压缩机(法国泰康或德国比泽尔)

安全装置:超温保护,漏电保护,压机超压、过流相序(三相压机)保护,

标准配件:说明书、电路图、样品搁板2层、送货单、验收单

半导体高低温冲击测试箱


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