芯片测试高低温冲击仪

芯片测试高低温冲击仪常用于测试工业产品(塑料、金属、电子、电器、玩具、生活用品、家庭用具、办公用品)等等一些试件在恒定的温度环境中使用、运输、放置后其强度变化的试验,也叫提前预测部分物品的抗老化程度试验.此设备在规定的温度范围内可随意恒定任意温度,也可交变循环试验.经常用于研究或鉴定高分子材料耐老化性能的一种人工加速热老化试验，也可用来研究或实验推算某些高分子材料的使用寿命和贮存期。它是将试验物品暴露于热空气环境中，经受热空气(高温)的作用，按预定时间检测试样的性能变化，从而评定各种工业产品的高低温老化性能。高低温老化试验条件必须根据材料性能、使用条件及试验目的要求加以确定。

芯片测试高低温冲击仪型号及参数：

AP-GD-80 (A/B/C/D)内箱:宽400×高500×深400(CM)

AP-GD-120(A/B/C/D)内箱:宽500×高600×深400(CM)

AP-GD-150(A/B/C/D)内箱:宽500×高600×深500(CM)

AP-GD-225(A/B/C/D)内箱:宽500×高750×深600(CM)

AP-GD-408(A/B/C/D)内箱:宽800×高600×深850(CM)

AP-GD-800(A/B/C/D)内箱:宽1000×高1000×深800(CM)

AP-GD-1000(A/B/C/D)内箱:宽1000×高1000×深1000(CM)

以上型号的老化试验箱容积分别：80升、120升、150升、225升、408升、800升、1000升

以上型号温度范围可以选择分别：A：0℃～150℃，B：-20℃～150℃，C：-40℃～150℃，D：-70℃～150℃

以上型号的所有设备温度均匀度：≤±2℃

以上型号的所有设备温度波动度：≤±0.5℃

以上型号的所有设备升温速率: 1.0～3.0℃/min

以上型号的所有设备降温速率: 1.0～1.3℃/min

爱佩公司生产的高低温老化试验箱采用数控机床加工成型，外观造型美观大方、技术新颖并采用节能先进技术及无反作用把手，节能省电具操作安全简便等优势.

试验箱门内装有大型观测视窗并附节能照明灯保持箱内明亮供客户随时可观察内部测试情况，且采用双层玻璃再加可加温降温除雾功能,清晰明亮,安全可靠。设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，保证实验安全运行不发生意外。试验箱箱体左侧配直径50mm的测试孔，内箱采用不锈钢（SUS304）板或304B氩弧焊制作而成，箱体外箱材质采用A3钢板喷塑。再加上控制系统采用微电脑温度全触控控制器，控温精度更可靠。